Презентация испытательного оборудования АО «НИИЭТ» успешно прошла в Москве в «Крокус Экспо» на международной выставке Testing&Control. Были представлены: автоматическая камера для испытаний полупроводниковых приборов и интегральных микросхем на тепловой удар «АКТУ-001» и испытательные стенды серии «СИТ».

Пармон Павел Леонидович, директор по качеству АО «НИИЭТ»: «Автоматическую камеру для испытаний полупроводниковых приборов и интегральных микросхем на тепловой удар «АКТУ-001» мы впервые представляли широкой аудитории на данной международной выставке в Москве. Мероприятие прошло более, чем успешно. В течение трех дней наблюдали активный интерес со стороны участников, причем специалистов различных отраслей: приборостроительной, авиационной, ракетно-космической и даже нефтегазовой. Сейчас мы обрабатываем обратную связь различного формата, в основном, технические нюансы, есть запросы и на индивидуальные решения».

В этом году «Дайджест информационных ресурсов по тематике радиоэлектронной промышленности», выпускаемый НИИЭТ, стал информационным партнером международной выставки Testing&Control. Отечественная электроника сейчас находится под особым вниманием, интерес ней растет у всех отраслей промышленности. Об это говорит и рост подписчиков Telegram-канала «Русская электроника», на котором ежедневно публикуется Дайджест.