21-22 сентября в Петергофе ООО «Остек-Электро» совместно с российским представительством компании JTAG Technologies провели конференцию тестовых инженеров электрического контроля. Мероприятие собрало единомышленников из России и Беларуси: от Томска до Лиды и от Санкт-Петербурга до Севастополя. В рамках конференции состоялся обмен опытом в области организации внутрисхемного контроля на производстве с использованием установок внутрисхемного тестирования с летающими пробниками SPEA, адаптерных систем Ingun и технологии периферийного сканирования JTAG Technologies. Было заслушано свыше 20 докладов пользователей, рассказавших о том, как внутрисхемный контроль помогает в поиске и локализации дефектов и повышает надежность радиоэлектроники, разрабатываемой и производимой нашими клиентами. Докладчиками выступили АО «НПП НТТ» (Санкт-Петербург), ООО «Белтекс-Оптик» (Минск), компания «Третий Пин» (Санкт-Петербург), АО «Радар-ММС» (Санкт-Петербург), ООО «А-Контракт» (Санкт-Петербург), ООО «ПКРВ» (Тула), НИИ «Экран» (Самара), ООО «Т8» (Москва), АО «Моринсис-Агат» (Москва), НИИИС им. Ю. Е. Седакова (Нижний Новгород), АО «ТОМЗЭЛ» (Томск), АО «КБПА» (Саратов).
Организаторы конференции —ООО «Остек-Электро» и российское представительство компании JTAG Technologies — рассказали о новинках в области электроконтроля, новом семействе машин с летающими пробниками SPEA 4080 и свежем обновлении программного пакета JTAG Provision.
Для запроса презентаций обращайтесь через форму на сайте. Темы докладов доступны в телеграмм канале JTAG.